Applications and microanalysis

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Beddow, John Keith (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Boca Raton, Fla. CRC Press 1984
Schriftenreihe:Particle characterization in technology 1
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Beschreibung
Beschreibung:Literaturangaben
Beschreibung:246 S
Ill., graph. Darst
ISBN:0849357845
0-8493-5784-5