Particle characterization in technology

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Beddow, John Keith (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Boca Raton, Fla. CRC Press 1984
Schriftenreihe:	CRC series on fine particle science and technology
Schlagworte:	Mikroanalyse > Morphemanalyse
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Titel	Jahr	Band
Morphological analysis	1984	2
Applications and microanalysis	1984	1