Practical surface analysis by Auger and X-ray photoelectron spectroscopy

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Briggs, D. (BerichterstatterIn), Seah, M. P. (BerichterstatterIn), Briggs, David (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Chichester; New York Wiley 1983
Schlagworte:	Oberflächenanalyse > Elektronenspektroskopie
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