A new methodology for yield simulation of integrated circuits

Zugl.: Pittsburgh, Pa., Univ., Diss.

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Khare, Jitendra B. (VerfasserIn)
Körperschaft:	Carnegie Mellon University Center for Computer Aided Design (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Pittsburgh, Pa. 1989
Schriftenreihe:	Research report / Carnegie-Mellon University, CMUCAD 89,41
Schlagworte:	Hochschulschrift
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