Total reflection X-ray fluorescence spectrometry for surface analysis

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Knoth, J. (VerfasserIn)
Körperschaft:	Institut für Physik, GKSS-Forschungszentrum Geesthacht GmbH, Geesthacht (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Schwenke, H. (VerfasserIn), Weisbrod, U. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Geesthacht 1989
Schriftenreihe:	Gesellschaft für Kernenergieverwertung in Schiffbau und Schiffahrt mbH 89/E/27
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