Scanning tunneling microscope with a field ion microscope

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Hashizume, Tomihiro (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Veröffentlicht:	Tokyo Inst. for Solid State Physics, Univ. 1988
Schriftenreihe:	Technical report of ISSP. Series A 2082
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