Electronics reliability and measurement technology nondestructive evaluation

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Körperschaft:	Electronics Reliability and Measurement Technology Workshop (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Heyman, Joseph S. (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Park Ridge, NJ Noyes Data Corporation 1988
Schlagworte:	Integrated circuits > Testing > Reliability > Congresses > Nondestructive testing > Integrated circuits ; Reliability ; Congresses > Nondestructive testing ; Congresses > Integrated circuits ; Testing ; Congresses > Konferenzschrift > Zuverlässigkeit > Elektronik > Elektronische Schaltung
Online Zugang:	Publisher description
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Beschreibung
Beschreibung:	"The Electronics Reliability and Measurement Technology Workshop was held in June 1986 at NASA Langley Research Center"--P. vii Includes bibliographies and index
Beschreibung:	XII, 128 S zahlr. Ill., graph. Darst
ISBN:	081551171X 0-8155-1171-X