Yield Loss Mechanisms and defect tolerance

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Maly, Wojciech (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Moore, Will R. (VerfasserIn), Strojwas, Andrzej J. (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Pittsburgh, Pa. 1988
Schriftenreihe:	Research report / Center for Computer-Aided Design, Carnegie-Mellon University 88,18
Schlagworte:
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