Surface measurement and characterization

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaften:	SPIE, the International Society for Optical Engineering (BerichterstatterIn), European Physical Society (BerichterstatterIn), West European Optical Societies (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser:	Bennett, Jean M. (HerausgeberIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bellingham, Wash. SPIE 1989
Schriftenreihe:	Proceedings of the Society of Photo-Optical Instrumentation Engineers 1009
Schlagworte:	Konferenzschrift
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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