Characterization of some technically important defects in semiconductors

Lund, Diss. : 1982

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Meijer, Erik (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Veröffentlicht: 1982
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Beschreibung
Zusammenfassung:Lund, Diss. : 1982
Beschreibung:Getr. Zählung
graph. Darst. & 4 Sonderabdr