Test beam and simulation studies on High Resistivity CMOS pixel sensors

Dissertation, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität Bonn, 2018

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Muenker, Ruth Magdalena (VerfasserIn)
Körperschaft:	Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität Bonn (Grad-verleihende Institution)
Weitere Verfasser:	Desch, Klaus (AkademischeR BetreuerIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Bonn 2018
Schlagworte:	Hochschulschrift
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