Development of a test environment for the characterization of the current digitizer chip DCD2 and the DEPFET pixel system for the Belle II experiment at SuperKEKB

Bonn, Univ., Diss., 2011

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Koch, Manuel Tobias (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin Mensch-und-Buch-Verl. 2011
Schriftenreihe:	Physical science
Schlagworte:	Belle-II-Detektor > Pixeldetektor > DePFET > Ausleseverfahren
Online Zugang:	Inhaltsverzeichnis
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