Anomalous X-ray scattering for materials characterization atomic scale structure determination

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Waseda, Yoshio (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Berlin u.a. Springer 2002
Schriftenreihe:Springer tracts in modern physics 179
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Beschreibung
Beschreibung:XIII, 214 S. : Ill., zahlr. graph. Darst.
ISBN:3540434437