Anomalous X-ray scattering for materials characterization atomic scale structure determination
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | UnknownFormat |
Sprache: | eng |
Veröffentlicht: |
Berlin u.a.
Springer
2002
|
Schriftenreihe: | Springer tracts in modern physics
179 |
Schlagworte: | |
Online Zugang: | Inhaltsverzeichnis Buchumschlag |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Beschreibung: | XIII, 214 S. : Ill., zahlr. graph. Darst. |
---|---|
ISBN: | 3540434437 |