High resolution x-ray scattering : from thin films to lateral nanostructures

High resolution x-ray scattering from thin films to lateral nanostructures

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Pietsch, Ullrich (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Holý, Václav (VerfasserIn), Baumbach, Tilo (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: New York, NY u.a. Springer 2004
Ausgabe:2nd. ed.
Schlagworte:
Röntgenstreuung > Dünne Schicht > Mehrschichtsystem
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Beschreibung
Beschreibung:1. Aufl. u.d.T.: High resolution x-ray scattering from thin films and multilayers
Beschreibung:XVI, 408 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:9780387400921
978-0-387-40092-1
0387400923
0-387-40092-3