High resolution x-ray scattering from thin films to lateral nanostructures

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Pietsch, Ullrich (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Holý, Václav (VerfasserIn), Baumbach, Tilo (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	New York, NY u.a. Springer 2004
Ausgabe:	2nd. ed.
Schlagworte:	Röntgenstreuung > Dünne Schicht > Mehrschichtsystem
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