Lifetime spectroscopy a method of defect characterization in silicon for photovoltaic applications ; with 29 tables

Zugl.: Konstanz, Univ., Diss.,2004

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Rein, Stefan (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Berlin u.a. Springer 2005
Schriftenreihe:	Springer series in materials science 85
Schlagworte:	Siliciumhalbleiter - Werkstofffehler - Lebensdauerspektroskopie > Siliciumhalbleiter > Werkstofffehler > Lebensdauerspektroskopie > Hochschulschrift
Online Zugang:	Inhaltstext Inhaltsverzeichnis
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