X-ray microscopy 2002 7th International Conference on X-Ray Microscopy ; ESRF, Grenoble, France, July 28 - August 2, 2002

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: XRM (BerichterstatterIn)
Weitere Verfasser: Susini, Jean (BerichterstatterIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: Les Ulis EDP Sciences 2003
Schriftenreihe:Journal de physique 4, Colloque ; 104
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Beschreibung
Beschreibung:XXXIII, 667 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:286883664X
2-86883-664-X