Scanning probe microscope with high resolution capacitive transducers

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Zhao, Xianbin (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: Bremerhaven Wirtschaftsverl. NW, Verl. für Neue Wiss. 1998
Ausgabe:Rev. and shortened version
Schriftenreihe:Physikalisch-Technische Bundesanstalt <Braunschweig>: [PTB-Bericht / Abteilung Fertigungsmeßtechnik] 32
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