High resolution x-ray diffractometry and topography

High resolution x-ray diffractometry and topography

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Bowen, David Keith (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Tanner, Brian K. (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:eng
Veröffentlicht: London u.a. Taylor & Francis 1998
Schlagworte:
Cristallographie > Radiocristallographie > Rayons X - Diffraction > Rayons X > Crystals > X-ray crystallography > X-rays > Diffraction > Hochauflösendes Verfahren > Röntgendiffraktometrie
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Beschreibung:X, 252 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:0850667585
0-8506-6758-5