ICFSI-5 proceedings of the Fifth International Conference on the Formation of Semiconductor Interfaces, Princeton University, Princeton, NJ, USA, Junae 26 - 30, 1995

Bibliographische Detailangaben

Körperschaft:	ICFSI (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Kahn, A. (BerichterstatterIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	und
Veröffentlicht:	Amsterdam u.a. Elsevier 1996
Schriftenreihe:	Applied surface science 104/105
Schlagworte:	Halbleitergrenzfläche > Konferenzschrift
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