Weißlicht-Interferometer zur Profilmessung

Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 1996

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Zhou, Liang (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:ger
Veröffentlicht: 1996
Schlagworte:
Profilmessung > Oberflächenfeingestalt > Licht > Interferometer > Hochschulschrift
Online Zugang:Inhaltsverzeichnis
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Beschreibung
Zusammenfassung:Erlangen-Nürnberg, Univ., Diss., 1996
Beschreibung:II, 119 S.
Ill., graph. Darst.