Wacker's atlas for characterization of defects in silicon

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Rauh, Herbert (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	und
Veröffentlicht:	Burghausen Wacker-Chemitronic GmbH 1989
Schlagworte:	Gitterbaufehler > Einkristall > Silicium
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