Sequential logic testing and verification
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Weitere Verfasser: | , |
| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | eng |
| Veröffentlicht: |
Boston u.a.
Kluwer Acad. Publ.
1992
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| Schriftenreihe: | The Kluwer international series in engineering and computer science
163 |
| Schlagworte: |
Circuits intégrés à très grande échelle - Essais
> Circuits intégrés à très grande échelle - Fiabilité
> Circuits logiques - Essais
> Conception assistée par ordinateur
> Fiabilité circuit séquentiel
> Logique séquentielle
> Structure logique
> Test VLSI
> Test circuit logique
> Computer-aided design
> Logic circuits
> Testing
> Logic design
> Schaltwerk
> Logische Schaltung
> Logischer Entwurf
> Test
> Entwurf
> Testen
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Tag hinzufügen | Beschreibung: | Literaturverz. S. 199 - 211 |
|---|---|
| Beschreibung: | XV, 214 S. graph. Darst. |
| ISBN: | 0792391888 0-7923-9188-8 |