ICXOM

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Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Congress on X-ray Optics and Microanalysis (VerfasserIn)
Format: UnknownFormat
Sprache:und
Veröffentlicht: Les Ulis Ed. de Physique 1984
Schriftenreihe:Journal de physique / Colloque 1984,2.: Journal de physique 45,2.: Suppl.
Schlagworte:
Röntgenoptik > Mikroanalyse > Konferenzschrift
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Beschreibung
Beschreibung:XXXVI, 925 S.
Ill., graph. Darst.
ISBN:2902731728
2-902731-72-8
ISSN:0449-1947