Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Bünau, Günther von (VerfasserIn)
Weitere Verfasser:	Klöppel, Klaus-Dieter (VerfasserIn)
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Opladen Westdt. Verl. 1981
Schriftenreihe:	Nordrhein-Westfalen: Forschungsberichte. 3049.
Schlagworte:	Sekundärionen-Massenspektrometrie > Oberflächenanalyse
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