Measurement of transistor scattering parameters

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Rogers, George J.
Weitere Verfasser:	Sawyer, David E.
Format:	UnknownFormat
Sprache:	eng
Veröffentlicht:	Washington U.S. Dept. of Commerce, Nat. Bureau of Standards 1975
Schriftenreihe:	Semiconductor measurement technology 5
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