Schichtwachstum und elektronische Defekteigenschaften von CuInS2-Absorberschichten aus dem sequentiellen Prozeß
Zugl.:Berlin, Freie Univ., Diss., 2000
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| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | ger |
| Veröffentlicht: |
Berlin
HMI
2000
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Tag hinzufügen | Zusammenfassung: | Zugl.:Berlin, Freie Univ., Diss., 2000 |
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| Beschreibung: | 134 S. Ill., graph. Darst. 30 cm |