Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Bünau, Günther von
Weitere Verfasser:	Klöppel, Klaus-Dieter
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Opladen Westdeutscher Verl. 1981
Schriftenreihe:	Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen 3049 : Fachgruppe Physik, Chemie, Biologie
Schlagworte:	Oberflächenanalyse > Sekundärionen-Massenspektrometrie > Massenspektrometrie > Organische Verbindung
Online Zugang:	Cover Inhaltsverzeichnis
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