Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
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| Format: | UnknownFormat |
| Sprache: | ger |
| Veröffentlicht: |
Opladen
Westdeutscher Verl.
1981
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| Schriftenreihe: | Forschungsberichte des Landes Nordrhein-Westfalen
3049 : Fachgruppe Physik, Chemie, Biologie |
| Schlagworte: | |
| Online Zugang: | Cover Inhaltsverzeichnis |
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| Beschreibung: | 23 S. 14 graph. Darst. 24 cm |
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| ISBN: | 3531030493 |