Entwicklung und Erprobung kapazitiver Messverfahren für Tieftemperaturuntersuchungen an Halbleitern

Braunschweig, Techn. Univ., Fak. f. Maschinenbau u. Elektrotechnik, Diss. 1973.

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Hoyer, Wolfgang
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
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