Weißlicht-Interferometer zur Profilmessung

Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 1996

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Zhou, Liang
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Schlagworte:	Oberflächenfeingestalt > Profilmessung > Interferometer > Licht
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