Datenstrukturen und Algorithmen zu Testzwecken

Zugl.:Frankfurt am Main, Univ., Diss., 1994

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Hahn, Ralf
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Veröffentlicht:	Düsseldorf VDI-Verl. 1995
Ausgabe:	Als Ms. gedr.
Schriftenreihe:	Fortschritt-Berichte VDI. @Reihe 20, Rechnerunterstützte Verfahren 159
Schlagworte:	Integrierte Schaltung > Fertigungsfehler > Fehlersimulation > Testmuster > Datenstruktur > Algorithmus
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