Partitionierung und Analyse statischer, digitaler CMOS-Schaltungen auf der Schalterebene zur Vorbereitung einer Mixed-Level-Testgenerierung

Paderborn, Univ., Diss., 1993

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Hübner, Uwe
Format:	UnknownFormat
Sprache:	ger
Schlagworte:	Partitionierung > Testmustergenerierung > CMOS-Schaltung > VLSI
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