Einsatz von Quarz-Resonatoren und Ellipsometrie zur visko-elastischen Charakterisierung von dünnen Schichten und Adsorbaten
Mainz, Univ., Diss., 1991
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Sprache: | ger |
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Zusammenfassung: | Mainz, Univ., Diss., 1991 |
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Beschreibung: | Mikroreprod. e. Ms. 105 Bl. : graph. Darst. |
Beschreibung: | 2 Mikrofiches 24x |