A beam-loss distribution monitor (LDM)

von Someya, H.
Veröffentlicht in Proceedings of the Workshop on Advanced Beam Instrumentation ; 1 (1991)

Characterization of the Low-k Dielectric Films Using the Shaving Test and the 3ω Method

von Yamane, T.
Veröffentlicht in Handōtai-Shūseki-Kairo-Gijutsu-Shinpojiumu (62 : 2002 : Tokio) Handōtai, Shuseki-Kairo-Gijutsu-62.-Shinpojiumu-kōen-ronbunshū (2002)

[Besprechung von:] Daus, P. H., and W. W. Whyburn: Algebra with applications to business and economics. London 1961 - Yamane, T.: Mathematics for economists: An elementary survey....

von Kade, Gerhard
Veröffentlicht in Jahrbücher für Nationalökonomie und Statistik (1963)

CMOS-MEMS Based Microgravity Sensor and Its Application

von Masu, K.
Veröffentlicht in ECS Meeting (237. : 2020 : Montréal) (19.) Advanced CMOS-Compatible Semiconductor Devices 19 (2020)