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    Data analysis and modeling for process control : 26 - 27 February 2004, Santa Clara, California, USA
    Veröffentlicht 2004
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  2. 2
    Metrology-based control for micro-manufacturing : 24 - 26 January 2001, San Jose, USA
    Veröffentlicht 2001
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  3. 3
    Process and materials characterization and diagnostics in IC manufacturing : 27 - 28 February 2003, Santa Clara, California, USA
    Veröffentlicht 2003
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  4. 4
    Machine vision applications in industrial inspection VIII : 24 - 26 January 1999, San Jose, California
    Veröffentlicht 2000
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  5. 5
    Sixth International Conference on Quality Control by Artificial Vision : 19 - 22 May 2003, Gatlinburg, Tennessee, USA
    Veröffentlicht 2003
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  6. 6
    Machine vision applications in industrial inspection VII : 25 - 26 January 1999, San Jose, California
    Veröffentlicht 1999
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