Scattering in electron spectrometers, diagnosis and Avoidance, II: cylindrical mirror analysers

von Seah, M. P.
Veröffentlicht 1992

Stability of reference masses II: the effect of environment and cleaning methods on the surfaces of stainless steel and allied materials

Veröffentlicht 1993

Scattering in electron spectrometers

von Seah, M. P.
Veröffentlicht 1991

Scattering in electron spectrometers, diagnosis and Avoidance, I: concentric hemispherical analysers

von Seah, M. P.
Veröffentlicht 1992

VAMAS study of intensity stability of cylindrical mirror analyser based auger electron spectrometers

von Seah, M. P.
Veröffentlicht 1990

Auger electron spectroscopy

von Seah, M. P.
Veröffentlicht 1982

Practical Surface Analysis by Auger and X-ray photoelectron spectroscopy

Veröffentlicht 1987

Specimen files in VAMAS standard data transfer format (EXAMPLE1.TXT to EXAMPLE4.TXT)

von Seah, M. P.
Veröffentlicht 1993

Random uncertainties in the surface spectroscopies

von Cumpson, P. J.
Veröffentlicht 1991

Stability of reference masses IV; growth of carbonaceous contamination on platinum-iridium mass standard surfaces, and its cleaning by UV/ozone treatment

von Cumpson, P. J.
Veröffentlicht 1994

Stability of reference masses III : mechanism and long term effects of mercury contamination on platinum-iridium mass standards

von Cumpson, P. J.
Veröffentlicht 1994

Optimisation and specification of auger electron spectrometers for signal-to-noise ratio performance

von Seah, M. P.
Veröffentlicht 1993

Guidelines for the expression of uncertainties in surface chemical analysis by auger electron spectroscopy (AES) and X-ray photoelectron spectroscopy (XPS)

von Cumpson, P. J.
Veröffentlicht 1993

The calibration of spectrometers for auger electron and x-ray photoelectron spectrometers

von Smith, G. C.
Veröffentlicht 1991

Topical review : sputtering yields of compounds using argon ions

Veröffentlicht 2010

Quantitative AES and XPS : determination of the electron spectrometer transmission function and the detector sensitivity energy dependences for the production of true electron em...

von Smith, G. C.
Veröffentlicht 1989

Quantitative electron spectroscopy of surfaces - a standard data base for electron inelastic mean free paths in solids

von Seah, M. P.
Veröffentlicht 1978

Practical surface analysis by Auger and X-ray photoelectron spectroscopy

Veröffentlicht 1983

The certification of a second batch of tantalum pentoxide on tantalum foil : CRM 261R, CRM 261S

von Gould, D.
Veröffentlicht 1990

The calibration of spectrometers for auger electron and x-ray photoelectron spectrometers

von Smith, G. C.
Veröffentlicht 1991