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Yield and variability optimization of integrated circuits

von Zhang, J. C.
Veröffentlicht 1995

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Theoretical and Practical Aspects of Drift Reliability vs. Manufacturing Yield Optimization

von STYBLINSKI, M. A.
Veröffentlicht in International Symposium on Reliability and Maintainability (20 : 1990 : Tokio) International Symposium on Reliability and Maintainability, 1990-Tokyo (1990)

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