Hierarchical test generation for digital circuits represented by decision diagrams

von Raik, Jaan
Veröffentlicht 2001

Design and test technology for dependable systems-on-chip

Veröffentlicht 2011

On Test Generation for Microprocessors for Extended Class of Functional Faults

von Oyeniran, Adeboye Stephen
Veröffentlicht in IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (27. : 2019 : Cuzco) VLSI-SoC (2020)

Towards Formal Verification of Cache Access-based Side-Channel Attacks

von Niazmand, Behrad
Veröffentlicht in GI/GMM/ITG-Workshop Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (31. : 2019 : Prien a. Chiemsee) 31. Workshop für Testmethoden und Zuverlässigkeit von Schaltungen und Systemen (2019)

2012 IEEE 15th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2012) : Tallin, Estonia, 18 - 20 April 2012

Veröffentlicht 2012

Research environment for teaching digital test

Veröffentlicht in Synergies between information processing and automation ; Vol. 2: Session 4-10 (2004)

2015 IEEE 18th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems (DDECS 2015) : Belgrade, Serbia, 22-24 April 2015

Veröffentlicht 2015

VLSI-SoC: system-on-chip in the nanoscale era – design, verification and reliability : 24th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2...

Veröffentlicht 2017