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  • Pierer, Jörg
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    Plenoptic Inspection System for Automatic Quality Control of MEMS and Microsystems
    Plenoptic Inspection System for Automatic Quality Control of MEMS and Microsystems
    von Kirschmann, Moritz A.
    Veröffentlicht in IFIP WG 5.5 International Precision Assembly Seminar (9. : 2020 : Online) Smart technologies for precision assembly (2021)
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