Apparecchiatura e metodo di prova per indagini sul periodo di giovinezza di circuiti integrati logici

von Paloschi, Paolo
Veröffentlicht in Bobbio, Andrea Rottura per elettromigrazione delle connessioni di alluminio nei circuiti integrati (1972)

Applicazioni del sistema di navigazione Loran-C per misure di tempo e frequenza

von Leschiutta, Sigfrido
Veröffentlicht in Alta frequenza ; 1971,40 (1971)