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Combination of Pressure Cooker Test and High Temperature Bias Test for Evaluating Plastic Molded IC

von Ueda, Seiji
Veröffentlicht in Symposium on Reliability and Maintainability (13. : 1983 : Tokio) 13th Symposium on Reliability and Maintainability (1983)

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2

EFFECT OF STEAM CONTAMINATION ON PRESSURE COOKER TESTING

von KAWAYOSHI, Nobuyuki
Veröffentlicht in Symposium on Reliability and Maintainability (19. : 1989 : Tokio) 19th Symposium on Reliability and Maintainability (1989)

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