Das CS-Impulswirbelstrom-Mikroskop ein hochauflösendes Meßsystem zur Beschreibung von oberflächennahen Werkstoff- und Bauteileigenschaften

von Maaß, M.
Veröffentlicht in Die ZfP der DACH-Länder im Spiegelbild internationaler Normung ; 1: Vorträge (1996)