Atlas of IC technologies : An introd. to VLSI processes

von Maly, W.
Veröffentlicht 1987

Built-in current testing

Veröffentlicht 1989

Built-in current testing

Built-in current testing

Veröffentlicht 1988

Anwendung des Elektro-Schlacken-Umschmelzens zur Raffination von Ferromangan

von Koleda, M.
Veröffentlicht in Moderne Verfahren bei der Erzeugung von Eisen und Stahl (1969)

Vergleich des OTTO-Reaktors zum Mehrfach-Kugeldurchlauf-Reaktor

von Bock, H. J.
Veröffentlicht 1971

Führungen u. Fügungen : E. Mädchengesch.

von Follenius, Sophie von
Veröffentlicht 1897

VLSI test : VTS; Symposium. presented papers

Veröffentlicht in IEEE Transactions On Computer-Aided Design Of Integrated Circuits And Systems 14(1995)5. S. 529-575 (1995)

New high-temperature reactor concept for thorium conversion

von Hansen, U.
Veröffentlicht 1971

Fabrication based statistical design of monolithic IC's

von Maly, W.
Veröffentlicht 1981

Friction-Electric Modification of the Surfaces of Machine Parts with Tungsten Carbides

von Edigarov, V. R.
Veröffentlicht in International Conference on Modern Trends in Manufacturing Technologies and Equipment (5. : 2021 : Sewastopol) Modern Trends in Materials Processing ; Part 1 (2022)

Porous steel laser welding technology

von Cherepanov, A. N.
Veröffentlicht in Conference on High-Energy Processes in Condensed Matter (27. : 2020 : Nowosibirsk) High-energy processes in condensed matter (2020)

Laser welding of porous metals

von Cherepanov, A. N.
Veröffentlicht in International Conference on Mechanics, Resource and Diagnostics of Materials and Structures (14. : 2020 : Jekaterinburg) Mechanics, resource and diagnostics of materials and structures (MRDMS-2020) (2020)

Yield modelling and defect tolerance in VLSI : papers presented at the International Workshop on Designing for Yield, Oxford, 1-3 July 1987

Veröffentlicht 06-88

VLSI yield prediction and estimation : a unified framework

von Maly, W.
Veröffentlicht 1985

Intefrated CAD, CAM and CAT of VLSI circuits and systems : the CMU perspective

von Director, Stephen W.
Veröffentlicht 1985

Inductive fault analysis of nMOS and CMOS integrated circuits

von Shen, John P.
Veröffentlicht 1985