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    Berührungslose Homogenitätsmessung von Halbleiterscheiben durch Nachweis des Volumen - Photostroms mit SQUID - Sensoren (SQUID-Waferinspektion) : Abschlussbericht zum BMBF Vorhaben 13 N 7502 5 ; Laufzeit: 01.04.1999 - 31.03.2002
    Veröffentlicht 2002
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    Photoscanning - Magnetfeldtopographie zur kontaktlosen Strommessung an Kristallen, Wafern und Solarzellen
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