Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie <SIMS> in der Oberflächenanalyse

von Kloeppel, Klaus Dieter

Methodik der Erprobung programmierter Lehrmaterialien : Kloepfel, Klaus D[ieter] ; Kloepfel, Klaus D. ; Erarb. von K[laus] D. Klöpfel

von Kloepfel, Klaus Dieter
Veröffentlicht 1967

Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie <SIMS> in der Oberfächenanalyse

von Bünau, Günther
Veröffentlicht 1981

Elektronische Datenverarbeitung : Kloepfel, Klaus [Dieter] ; (Klöpfel, K[laus] D., [u.] K[laus] Panter) ; Motorlocher, Motorprüfer

von Kloepfel, Klaus Dieter
Veröffentlicht 1971

Das 80 [achtzig] spaltige Lochkartenverfahren : Kloepfel, Klaus [Dieter] ; Kloepfel, Klaus. - (K[laus] Klöpfel, K[laus] Panther [vielm. Panter]) ; Locher, Prüfer u. Sortiermaschi...

von Kloepfel, Klaus Dieter
Veröffentlicht 1968

Zur Anwendung der elektronischen Datenverarbeitung im Bildungswesen : (Ausw. d. Titel: Klaus D[ieter] Klöpfel. Endbearb.: Hermann Freier)

von Kloepfel, Klaus Dieter
Veröffentlicht 1970

Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

von Bünau, Günther <<von>>
Veröffentlicht 1981

Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

von Bünau, Günther von
Veröffentlicht 1981

Anwendungen der hochaufloesenden Sekundaerionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflaechenanalyse

von Bünau, Günther von
Veröffentlicht 1981

Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

von Bünau, Günther von
Veröffentlicht 1981