Treffer 1 - 1 von 1 für Suche 'Iwase, Teppei', Suchdauer: 0,21s Treffer weiter einschränken
  1. 1
    Assembly-Stress-Mechanism in Pad Areas of Flip Chip Package on High-k/Metal gate Transistors
    von Ota, Yukitoshi
    Veröffentlicht in 2010 IEEE CPMT Symposium Japan (2010)
    UnknownFormat

    Zu den Favoriten
    Gespeichert in:

Suchwerkzeuge: