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    29th VLSI Test Symposium (VTS 2011) : Dana Point, California, USA, 1 - 5 May 2011 ; [proceedings]
    Veröffentlicht 2011
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  2. 2
    2010 19th IEEE Asian Test Symposium (ATS 2010) : Shanghai, China, 1 - 4 December 2010 ; [proceedings]
    Veröffentlicht 2010
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  3. 3
    Proceedings / 25th IEEE VLSI Test Symposium : 6 - 10 May 2007, Berkeley, California
    Veröffentlicht 2007
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    Proceedings / 26th IEEE VLSI Test Symposium : San Diego, California, 27 April - 1 May 2008
    Veröffentlicht 2008
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  5. 5
    Proceedings / 12th IEEE European Test Symposium, ETS 2007 : 20 - 24 May 2007, Freiburg, Germany
    Veröffentlicht 2007
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  6. 6
    2008 17th Asian Test Symposium (ATS) : [Sapporo], Hokkaido, Japan, 24 - 27 November 2008
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  7. 7
    Proceedings / 24th IEEE VLSI Test Symposium : April 30 - May 4, 2006, Berkeley, California
    Veröffentlicht 2006
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  8. 8
    Proceedings / IOLTS 2006, 12th IEEE International On-Line Testing Symposium : Lake of Como, Italy, July 10 - 12, 2006
    Veröffentlicht 2006
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  9. 9
    2009 Asian Test Symposium (ATS 2009) : Taichung, Taiwan, 23 - 26 November 2009
    Veröffentlicht 2009
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  10. 10
    2009 IEEE VLSI Test Symposium (VTS) : Santa Cruz, California, USA, 03 - 07 May 2009 ; [proceedings]
    Veröffentlicht 2009
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  11. 11
    2010 28th VLSI Test Symposium (VTS 2010) : Santa Cruz, California, USA, 19 - 22 April 2010 ; [proceedings]
    Veröffentlicht 2010
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  12. 12
    2012 IEEE 30th VLSI Test Symposium (VTS 2012) : Maui, Hawaii, USA, 23 - 25 April 2012 ; [proceedings]
    Veröffentlicht 2012
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  13. 13
    Proceedings of the 16th Asian Test Symposium : 8 - 11 October 2007, Beijing, China
    Veröffentlicht 2007
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  14. 14
    Proceedings / Eleventh IEEE European Test Symposium, ETS 2006 : 21 - 24 May 2006, Southampton, United Kingdom
    Veröffentlicht 2006
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  15. 15
    Proceedings / 2008 IEEE Workshop on Design and Diagnostics of Electronic Circuits and Systems : April 16 - 18, 2008, Bratislava, Slovakia
    Veröffentlicht 2008
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  16. 16
    Proceedings / Fourth IEEE International Symposium on Electronic Design, Test and Applications, [Delta] '08 : 23 - 25 January 2008, Hong Kong, SAR, China
    Veröffentlicht 2008
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  17. 17
    2009 12th International Symposium on Design and Diagnostics of Electronic Circuits & Systems : (DDECS) : Liberec, Czech Republic, 15 - 17 April 2009
    Veröffentlicht 2009
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  18. 18
    Proceedings / Sixth International Workshop on Microprocessor Test and Verification : common challenges and solutions ; Austin, Texas, 3 - 4 November 2005
    Veröffentlicht 2006
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  19. 19
    Proceedings / Seventh International Workshop on Microprocessor Test and Verification, MTV 2006 : Austin, Texas, 4 - 5 December 2006
    Veröffentlicht 2007
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  20. 20
    Proceedings / IEEE International Workshop on Design and Test of Nano Devices, Circuits and Systems : 29 - 30 September 2008, Cambridge, Massachusetts ; [held ... in conjunction with the IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems]
    Veröffentlicht 2008
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