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    10th anniversary compendium of papers from Asian Test Symposium 1992 - 2001 : proceedings
    Veröffentlicht 2001
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  2. 2
    Proceedings / 15th IEEE VLSI Test Symposium, April 27 - May 1, 1997, Monterey, California. Sponsored by IEEE Computer Society Technical Committee on Test Technology ...
    Veröffentlicht 1996
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  3. 3
    Veröffentlicht 1990
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  4. 4
    Bridging faults and IDDQ testing
    Veröffentlicht 1992
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  5. 5
    Proceedings of the Fourth Asian Test Symposium : November 23 - 24, 1995, Bangalore, India
    Veröffentlicht 1995
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  6. 6
    Proceedings of the Fifth Asian Test Symposium : November 20 - 22, 1996, Hsinchu, Taiwan
    Veröffentlicht 1996
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  7. 7
    Proceedings of the Sixth Asian Test Symposium : ATS ; November 17 - 19, 1997, Akita, Japan
    Veröffentlicht 1997
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  8. 8
    2014 9th International Design & Test Symposium (IDT 2014) : Algiers, Algeria, 16 - 18 December 2014
    Veröffentlicht 2014
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  9. 9
    Proceedings / 16th IEEE VLSI Test Symposium : April 26 - 30, 1998, Monterey, California
    Veröffentlicht 1998
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  10. 10
    Proceedings / International Test Conference 1992 : [September 20 - 24, 1992, Convention Center, Baltimore, MD, USA
    Veröffentlicht 1992
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  11. 11
    Veröffentlicht 1999
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  12. 12
    Chip-to-system test concerns for the 90's : digest of papers
    Veröffentlicht 1991
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  13. 13
    Design, test and application: ASICs and systems-on-a-chip : digest of papers
    Veröffentlicht 1992
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  14. 14
    Proceedings of the Third Asian Test Symposium : November 15-17, 1994, Nara, Japan
    Veröffentlicht 1994
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    Veröffentlicht 1996
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  16. 16
    The changing philosophy of test : proceedings; September 10 - 14, 1990, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC
    Veröffentlicht 1990
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  17. 17
    Proceedings / Seventh Asian Test Symposium (ATS '98), December 2 - 4, 1998, Singapore
    Veröffentlicht 1998
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  18. 18
    Proceedings / Eighth Asian Test Symposium (ATS '99) : November 16 - 18, 1999, Shanghai, China
    Veröffentlicht 1999
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  19. 19
    Veröffentlicht 1996
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  20. 20
    The changing philosophy of test : ITC 1990 ; proceedings
    Veröffentlicht 1990
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