A little book of Japanese wisdom

von Hoshino, Ken
Veröffentlicht 1915

The way of contentment

von Kaibara, Ekiken
Veröffentlicht 1913

Carrier Profiling of the L0-nm-order Structure in a 3D Flash Memory Cell using Scanning AC, Nonlinear Dielectric Microscopy

von Hirota, Jun
Veröffentlicht in International Symposium for Testing and Failure Analysis (45. : 2019 : Portland, Or.) ISTFA 2019 (2019)